全功能、新一代的掃描探針顯微鏡(SPM)——CSPM5500系列

 

系列掃描探針顯微鏡系統

CSPM5500/CSPM5500A/CSPM5500LS  

  環境檢測及控制掃描探針顯微鏡顯微鏡

  磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡

  精益求精、信心之選

  CSPM5500掃描探針顯微鏡工作模式簡介

  液相掃描探針顯微鏡

  納米加工

 

國際主流的研究級專業儀器,集成原子力顯微鏡(AFM),橫向力顯微鏡(LFM),掃描隧道顯微鏡(STM)

解析度:

原子力顯微鏡:橫向0.2nm,垂直0.03nm(以雲母晶體標定)

掃描隧道顯微鏡:橫向0.1nm,垂直0.01nm(以石墨晶體標定)

高精度計量型儀器,採用NanoSensors提供的可溯源于國際計量權威機構PTB的標準樣品進行校準

一鍵式快速全程全自動進樣,無需手動預調,行程大於30mm,可容納超大樣品,最大樣品尺寸為:45mm×45mm×30mm

兩級可讀數樣品調節機構,可對樣品進行精確的檢測區域定位

一次掃描技術,圖像分辨高達4096×4096物理象素,微米級掃描即可得到納米級的實際資訊

先進PID回饋演算法實現快速高精度作用力控制,確保系統在高速掃描中穩定成像,實際掃描速度提升一個數量級

系統採用10M/100M快速乙太網(Fast Ethernet 10/100)或USB 3.0與電腦連接,支援固件遠端升級

主控機箱前面板具有16×4液晶顯示幕,系統當前狀態即時顯示

具備即時線上三維圖像顯示功能,便於用戶在檢測過程中隨時直觀獲得樣品資訊

集成了多功能,多模式的新型原子力顯微鏡。

系統功能

標準模組:
原子力顯微鏡(AFM):包括接觸、輕敲、相移成像(Phase Imaging)等多種工作模式
橫向力顯微鏡(LFM):具有摩擦力回路曲線、摩擦力載荷曲線、摩擦力恒載荷曲線等摩擦學性能分析測量功能
掃描隧道顯微鏡(STM):包括恒流模式、恒高模式、I-V曲線、I-Z曲線等
曲線測量分析功能:力-距離曲線、振幅-距離曲線、相移-距離曲線等
選配功能:
納米加工:包括圖形刻蝕模式、壓痕/機械刻畫、向量掃描模式、DPN浸潤筆模式等
磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡
環境控制掃描探針顯微鏡
液相掃描探針顯微鏡
導電原子力顯微鏡
掃描探針聲學顯微鏡
掃描開爾文探針顯微鏡
掃描電容顯微鏡
壓電力顯微鏡
樣品溫度控制系統(控溫範圍:-20~150℃)
樣品加熱系統(控溫範圍:室溫~250℃)

CSPM5500宣傳畫冊(PDF格式)